英特尔至强八核PXI Express控制器，24 GB/s
32通道, 24位, 热电偶输入模块32路热电偶输入通道; 8路内置冷端温度补偿通道; 0.3 °C精度90 S/s/通道的采样率 (高速模式); 1 S/s/通道的采样率 (高分辨率模式)300 Vrms CAT II通道-地面接地安全隔离自动调零通道用于偏移误差补偿; 热电偶开路检测借由PXI Express, 实现多设备触发和同步NI-DAQmx驱动软件和NI LabVIEW SignalExpress LE交互式数据记录软件
多年以来，HORIBA销售的EDXRF分析仪和XGT-WR系列为客户提供RoHS，ELV和无卤检测，对含有害元素如Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl，As，Sb等的样品进行筛选式测量，如今在世界范围内广泛使用。基于大量客户的要求，HORIBA凭借长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50 。它将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。 MESA-50具有三种尺寸的准直器可用于各种大小的样品，从细长的电线、微小的电子器件到大型的样品。结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器，MESA-50将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器，不仅适合于欧洲的RoHS，ELV，也适用于其他地区的各种法规。
实时的干涉测量设备，提供蚀刻/镀膜制程中高精度的膜厚及蚀刻沟深度检测。单色光打在样品表面，由于膜厚和高度变化导致不同的光路长度时，使用干涉测量法。通过循环，系统能在监控区使用实时监测的方法计算蚀刻和镀膜的速度，在规定的膜厚和槽深来进行终点检测。基于这个相对简单的理论，系统不但非常稳定，并且可用于复杂的多层薄膜。
100 MHz、300 MHz 和 500 MHz 带宽型号
10 MHz, 25 MHz, 50 MHz, 100 MHz, 150 MHz或240 MHz正弦波形 14 bits, 250 MS/s, 1 GS/s或2 GS/s 任意波形 幅度高达20 Vp-p 至50 Ω负载
14 bits, 250 MS/s, 1 GS/s或2 GS/s 任意波形 幅度高达20 Vp-p 至50 Ω负载
200、100、70 MHz 带宽型号 2 个和 4 个模拟通道型号 16 个数字通道（MSO 系列） 全部通道均实现 1 GS/s 采样率 所有通道上的记录长度均为 1 兆点 最大波形捕获速率 5,000 wfm/s 高级触发套件