3月4日下午, 美国国家仪器公司（NI）在光谷凯悦酒店召开了NI半导体测试武汉站研讨会。来自华为、武汉梦芯、华中科技大学等单位的近60位相关行业同仁参加了会议。武汉视科作为NI在华中地区的重要合作伙伴也受邀参会。
本次会议上，由NI工程师为大家介绍了NI公司最新推出的STS系列半导体测试解决方案，该方案覆盖了从研发验证到量产整个半导体开发流程的测试验证，已经在华为和武汉新芯等半导体企业成功应用。另外会上武汉新芯半导体战略与业务拓展部总监、“千人计划”专家安西琳为与会来宾做了<非易失储存器技术与发展>的主旨演讲，系统地分享了行业现状、趋势、以及对行业的思考和分析。经过约4小时的研讨分享，现场来宾对NI在半导体测试领域的发展表示了肯定。武汉视科也将同NI一起，将半导体测试的解决方案更好的推向市场，服务更多的有需求的用户。
